Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)

Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) utilizan un haz de electrones que son proyectados sobre la muestra para crear una imagen de alta resolución de la superficie. La interacción de los electrones con la muestra produce varias señales que dan información sobre la topografía y la composición de la superficie.

 

Entre las principales aplicaciones de estos microscopios, están:

 Además, para realizar los diversos análisis es necesario utilizar diversos portamuestras y otros accesorios.